硬盘成长坏道测试
1.安装EZSCSI软件,重启,该软件只支持Winxp下测试硬盘
2.开始――Adaptec EZ-SCSI 6.0程序――打开SCSI Explorer
3.interrogator选项卡――单击选中需要测试的硬盘――Defect list选项卡――单选Grown Defect List―
4.其中ID#0:FUJITSU(表示第一组通道的第一个盘)Grown Defect List 就是查看成长坏道,如果没有成长的话,里面显示信息就是No Grown Defects
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下图表示硬盘有一个成长坏道